Toggle navigation
RU
EN
DE
JP
KR
VN
Главная
Продукт
визуальный источник света
Контроллер источника света
Промышленные камеры
Промышленные линзы
Решение для обнаружения ТГц
Приложение
Профиль компании
связаться с нами
RU
EN
DE
JP
KR
VN
INFORMATION
Приложение
Главная
>
Приложение
> Обнаружение дефектов внешнего вида чипа
Обнаружение дефектов внешнего вида чипа
время выпуска间:2022-07-07
Приложение
автор:David
Чип изображения с мобильного телефона
Изображение чипа с помощью машинного зрения
Предыдущий:Обнаружение дефектов внешнего вида светодиодного ЖК-экрана
Следующий:Обнаружение паяных соединений печатной платы